半導(dǎo)體晶圓缺陷與少子壽命測試系統(tǒng)-SPM900 參考價：面議
半導(dǎo)體晶圓缺陷與少子壽命測試系統(tǒng)-SPM900,，PL測試是一種無損的測試方法,，可以快速,、便捷地表征半導(dǎo)體材料的缺陷,、雜質(zhì)以及材料的發(fā)光性能。
SPM300半導(dǎo)體晶圓應(yīng)力與載流子濃度檢測儀 參考價：面議
卓立漢光SPM300半導(dǎo)體晶圓應(yīng)力與載流子濃度檢測儀,，拉曼光譜作為一種非破壞性檢測技術(shù),，能夠高靈敏度地檢測材料中的應(yīng)力狀態(tài)。其原理基于光與材料內(nèi)化學鍵的相互作用...
晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案 參考價：面議
晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案,，基于我司自主研發(fā)的激光自動聚焦,、自動化顯微成像、寬場熒光成像,、共焦光致發(fā)光和拉曼光譜等核心測試技術(shù),，聯(lián)合白光干涉等其它...
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組 參考價：面議
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組，以自動化顯微鏡模組為基礎(chǔ),，針對 SiC 等化合物半導(dǎo)體晶圓位錯,、層錯等缺陷檢測需求。
半導(dǎo)體缺陷檢測：自動化顯微成像模組 參考價：面議
半導(dǎo)體缺陷檢測：自動化顯微成像模組,，針對半導(dǎo)體集成電路工藝線從表面缺陷檢查到圖形尺寸測量等各環(huán)節(jié)自動化視覺檢測需求,。
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